虽然已经从Hewlett和Packard两位创新领袖创办的百年老店里分拆了出来，但是创新的灵魂却一直照亮着安捷伦前进的道路。以高带宽示波器为例，在它还未涉足这个市场之前，主要供应商们一直都采用由分立器件组成复杂的电路板来制造测量仪器，其缺点是，在被还原到显示器上之前，所测信号已经经历了太多的处理流程与太长的电路板线路。因此，由于所测信号的速度尚未达到严重影响测量精度的水平，很长一段时间内，工程人员并未对这种分立方案提出多大的异议。不过随着技术对带宽和性能的胃口日益提高以及信号速度的大幅飙升，分立的AD转换器、高速内存、衰减器所组成的测量系统再也无法忽略频率对信号失真的“贡献”。

　　“无论是供应商还是工程师，如何跳出条条框框的思考方式都是非常关键的。”在上周于上海锦江举行的安捷伦数字测量论坛(ADMF)上，安捷伦科技的Johnny Hunter表示，正是在这一思想的启发下，将各模块集成在一起来解决高速数字信号测量中完整性问题的方案得以在该公司孕育并最终推向市场。“我们的设计思路是：为了尽可能的降低示波器信号失真的可能性，只有大幅减少器件数量和互联线路。”

　　安捷伦于6月19日开始先后在亚太区6个国家与地区举办了一年一度的ADMF大会，登陆的城市包括了首尔、班加罗尔、新德里以及马来西亚的槟榔屿、北京、上海、台北和新竹等测试测量领域较为重要的亚太城市。而除了来自安捷伦的数字测试方案演示和介绍之外，包括Microchip、Mathworks、Rambus、Xilinx、Allion在内的其他厂商还就数字测试技术的未来以及当下比较热门的测试话题进行了探讨。特别的，在他的主题演讲中Jonny Hunter提到了安捷伦在高速数字信号测试中的创新——高度集成。

　　不过对于工程技术，图有想法是不够的。“你必须有设计这种集成器件的能力。”Hunter表示。他解释说，就结构来讲，各家供应商所提供的数字示波器并没有多少不同。“主要区别在于每个模块的实现方法，从而造成性能上的差异。”他说，“之所以将采用分立的方式来，很大原因是实现集成时遇到的困难。”而安捷伦之所以能够拥有在10几个G的带宽下将衰减器、前置放大器集成在单一芯片上的能力。主要是HP在微波测试领域多年的技术积累。此外，早在6、7年前，这家公司当时全球速度最快的AD转换器，采样速率高达20GSa/s。